日置 HIOKI 脉冲线圈测试仪ST4030A
2022-04-24
安规仪
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日置 HIOKI 冲线圈测试仪ST4030A根据响应波形识别特征量LC和RC。 由于可以定量地将其作为电路常数值处理,因此可以基于数值数据清楚地确定判断阈值。 并且因为测试结果是数值,所以可以使用统计质量控制方法从测试结果中使用它们。 每匝短路的累积数据可以反馈到先前的过程以预测线圈缺陷并防止再次发生。
日置 HIOKI 脉冲线圈测试仪ST4030A
通过响应波形的定量化,能在装有转子的成品状态下进行检查
能够检测到以往很难检测到的不良现象
高精度的检测波形(高速采样200MHz×高分辨率12bit)
单匝线圈检测(响应波形的定量化)
通过检测隐藏在噪音中的“微弱的局部放电”,掌握马达线圈之间的绝缘不良情况(微短路)。(选件)
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