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日置 HIOKI LCR测试仪 IM3523

2022-07-04 17:26:18  浏览：714  作者：管理员
日置 HIOKI LCR测试仪 IM3523 应用于生产线和自动化测试领域的理想选择 基本精度±0.05％，测量范围广(DC,40Hz～200kHz，5mV～5V，10μA～50mA) 在比如C-D和ESR这样的混合测量条件下，可以以往产品10倍的速度不间断测试。 内置比较器和BIN功能 2ms的快速测试时间

日置 HIOKI LCR测试仪 IM3523


日置 HIOKI LCR测试仪 IM3523


应用于生产线和自动化测试领域的理想选择


基本精度±0.05％，测量范围广(DC,40Hz～200kHz，5mV～5V，10μA～50mA)

在比如C-D和ESR这样的混合测量条件下，可以以往产品10倍的速度不间断测试。

内置比较器和BIN功能

2ms的快速测试时间


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