159-5003-5579 
功率分析仪
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日置 HIOKI 电能质量分析仪PQ3198
日置 HIOKI 电能质量分析仪PQ3198 更加简单、准确的排查电源故障 可按照全球标准检查电能质量问题（IEC61000-4-30 ClassA） 连续进行高精度的测量 （V：标准电压的±0.1%，A：±0.1% rdg. ±0.1% f.s. W：±0.2% rdg. ±0.1% f.s.）
日置 HIOKI 电能质量分析仪 -
日置 HIOKI 功率分析仪PW8001
日置 HIOKI 功率分析仪PW8001 使用GaN / SiC准确评估变频器和电机的功率转换效率
功率分析仪 日置 HIOKI -
日置 HIOKI 泄漏电流测试仪ST5541
日置 HIOKI 泄漏电流测试仪ST5541 电气安全中需要的泄漏电流测量（用于一般电子设备） ST5540可用于一般电子设备 具备不断电极性切换功能，大幅缩短接触时间 额定电流最大20A，适合新标准的产品 对话框形式，操作简单的触摸屏 带通信功能和外部I/O，可用于生产线的自动检查
日置 HIOKI 泄漏电流 -
日置 HIOKI 镊形探头L2001
日置 HIOKI 镊形探头L2001 镊型探头L2001是在本公司的LCR测试仪，阻抗分析仪，C测试仪的测量端口上连接使用的针形夹探头。 最适用于芯片零部件的测量。
日置 HIOKI 镊形探头L2001 -
日置 HIOKI C测试仪 3504-60
日置 HIOKI C测试仪 3504-60 封装机、分选机、电容器的合格与否的判断和等级分类等 高速测量2ms 能根据C 和D （损耗系数*2）的测量值，进行被测物合格与否的判断 对应测试线，比较器功能/触发输出功能 3504-60/-50用BIN的分选接口进行被测物体的测试 3504-40记录工具，实现高速/低成本的测试 查出全机测量中的接触错误，提高成品率
日置 HIOKI C测试仪 -
顶日置 HIOKI LCR测试仪IM3536
日置 HIOKI LCR测试仪IM3536 DC，4Hz~8MHz测量频率 测量频率DC，4Hz~8MHz 测量时间：最快1ms 基本精度：±0.05% rdg 1mΩ以上的精度保证范围，也可安心进行低阻测量 可内部发生DC偏压测量 从研发到生产线活跃在各种领域中
日置 HIOKI LCR -
日置 HIOKI LCR测试仪 IM3523
日置 HIOKI LCR测试仪 IM3523 应用于生产线和自动化测试领域的理想选择 基本精度±0.05％，测量范围广(DC,40Hz～200kHz，5mV～5V，10μA～50mA) 在比如C-D和ESR这样的混合测量条件下，可以以往产品10倍的速度不间断测试。 内置比较器和BIN功能 2ms的快速测试时间
日置 HIOKI LCR -
日置 HIOKI 数据采集仪 8423
日置 HIOKI 数据采集仪 8423 10msec高速采样 最大 600通道的数据收集记录 PC基准的15ch～600ch数据收集器 强化绝缘功能、对地间600V、通道间200V/120V 配备USB2.0、100BASE-TX LAN、CF卡1GB 内存容量可有效合理利用的两用采样 8423主机无法进行测试。需要配置选件单元。本机不包含热电偶的测试,如有需求,请直接向专门厂家确认。
日置 数采 -
日置 HIOKI 存储记录仪MR8740，MR8741
日置 HIOKI 存储记录仪MR8740，MR8741 高速·绝缘&多通道的测试系统用记录仪（机架组装型） 24bit高分辨率的数字电压表单元MR8990新上市！不需要扫描仪即可实现高速高精度测量。 适用于多通道的测试（MR8740：54ch，MR8741：16ch） 绝缘输入（各输入通道间、外壳间绝缘：对地最大额定电压AC、DC300V） 高速采样（最大20MS/s，54ch型最大32ch同
日置 HIOKI 存储记录仪 -
日置 HIOKI 差分探头P9000
日置 HIOKI 差分探头P9000 安全的进行高压绝缘测量 小型探头实现CAT III 1000V测量 能够观测瞬态波形的Wave模式 可以观测有效值波形的RMS模式 主要应用： EV/HEV等汽车的高压电池回路 PV等新能源相关的高圧回路 480Vrms等工频电源线回路 变频器、马达、电磁阀的高压浪涌干扰等
日置 HIOKI 探头
